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  • 24

    임병승, 이정일, 김종민,
    Solderable 고분자 복합 소재의 환원제 함유량이 저융점 합금 입자의 융합 및 젖음 거동에 미치는 영향,
    대한용접·접합학회지 V.37, N.1, pp.76-81, 2019

  • 23

    임병승, 이정일, 김종민,

    탄소 나노튜브 함유 Solderable 이방성 도전성 접착제의 신뢰성 특성에 관한 연구,

    대한용접˙접합학회지,  V.35, N.3, pp.15-20, 2017

  • 22

    임병승, 이정일, 오승훈, 채종이, 황민섭, 김종민,

    Solderable 이방성 도전성 접착제를 이용한 BGA 접합공정 개발,

    반도체디스플레이기술학회지, V.15, N.4, pp.10-15, 2016

  • 21

    황민섭, 오승훈, 이정일, 한정우, 김종민,

    초미세버블이 종자발아에 미치는 영향,

    한국자원식물학회지, V.29, N.5, pp.574-578, 2016

  • 20

    임병승, 정진식, 이정일, 오승훈, 김종민,

    탄소나노튜브 함유 Solderable 도전성 접착제의 전기적/기계적 접합특성 평가,

    반도체디스플레이기술학회지, V.10, N.4, pp.37-42, Dec. 2011

  • 19

    송용, 임병승, 정진식, 김종민,

    열초음파를 이용한 ACF COB(Chip-on-Board)접합 프로세스,

    대한용접˙접합학회지, V.29, N.1, pp.25-28, Feb. 2011

  • 18

    송용, 이선병, 전성호, 정현석, 김종민,

    플립칩 패키징 언더필 유동특성에 관한 연구,

    한국마이크로전자 및 패키징학회지, V.16, No.3, pp.39-43 , Sep. 2009

  • 17

    임병승, 전성호, 김종민,

    저융점 합금 필러를 이용한 도전성 접착제 및 이를 이용한 접합 프로세스,

    대한용접˙접합학회지, V.27, N.3, pp.23-31, Jun. 2009

  • 16

    이진운, 이성혁, 김종민,

    이방성 도전성 접착제를 이용한 고밀도 전자 패키징 기술,

    대한용접˙접합학회지, V.26, N.1, pp.44-49, Feb. 2008

  • 15

    조윤성, 최명기, 김종민, 이성혁, 신영의,

    QFP 솔더접합부의 크립특성에 관한 연구,

    국공작기계학회논문집, V.16, N.5, pp.151-156, Oct. 2007

  • 14

    심형섭, 이성혁, 김종민, 신영의,

    언더필 공정에 대한 유동 특성과 침투 시간 예측 연구,

    대한용접˙접합학회지, V.25, N.3, pp.45-50, June 2007

  • 13

    김종민,

    전자 패키지에서의 도전성 접착제 기술 동향; Recent advances on conductive adhesives in electronic packaging,

    대한용접˙접합학회지, V.25, N.2, pp.31-36, April 2007

  • 12

    Y. E. Shin, J. M. Kim, Y. T. Kim and J. S. Kim,

    High density stacking process and reliability of electronic packaging,

    J. of KWS, V.24, N.1, pp.26-32, April, 2006

  • 11

    H. I. Kim, S. W. Han, J. M. Kim, M. K. Choi and Y. E. Shin,

    Evaluation of pull strengths and fracture modes of solder joints by modified ball pull testing with protrusion jaw,

    J. of KWS, V.23, N.4, pp.40-46, Aug. 2005

  • 10

    S. M. Lee and J. M. Kim,

    Research for the micro packaging of diamond electron emitter,

    J. of KWS, V.23, N.2, pp.41-46, Apr. 2005

  • 9

    J. M. Kim, S. M. Lee and Y. E. Shin,

    Electrically conductive adhesive bonding technology for microsystems packaging,

    J. of KWS, V.23, N.2, pp.18-22, Apr. 2005

  • 8

    Y. E. Shin, Y. S. Kim, J. M. Kim and M. G. Choi,

    The thermal fatigue analysis and life evaluation of solder joint for flip chip package using darveaux model,

    J. of KWS, V.22, N.6, pp.522-528, Dec. 2004

  • 7

    Y. W. Koh, J. M. Kim, J. H. Lee and Y. E. Shin,

    Thermal fatigue characteristics of μBGA solder joints with underfill,

    J. of KWS, V.21, N.4, pp.395-400, Aug. 2003

  • 6

    Y. S. Kim, H. I. Kim, Y. E. Shin and J. M. Kim,

    Prediction of thermal fatigue life on μBGA solder joint using Sn-3.5Ag, Sn-3.5Ag-0.7Cu and Sn-3.5Ag-3.0In-0.5Bi solder alloys,

    J. of KWS, V.21, N.3, pp.92-98, Jun 2003

  • 5

    Y. E. Shin, Y. W. Koh, J. M. Kim and J. K. Yoon,

    Trends of electronic packaging and characteristics evaluation by shape of solder joints,

    J. of KWS, V.20, N.3, pp.280-286, Jun. 2002

  • 4

    Y. E. Shin, S. H. Ji, K. Fujimoto and J. M. Kim,

    A study on the optimal shape prediction of μBGA solder joint,

    IMAPS-KOREA J. of the Micro-electronics & Packaging Society, V.8, N.4, pp.35-41, Sep. 2001

  • 3

    Y. E. Shin, S. Lee, K. Fujimoto and J. M. Kim,

    Characteristic of intermetallic compounds for aging of lead free solders applied to 48 μBGA,

    IMAPS-KOREA J. of the Micro- electronics & Packaging Society in Korea, V.8, N.3, pp.37-42, Sep. 2001

  • 2

    Y. E. Shin, H. H. Kim, K. S. Kim, K. Fujimoto and J. M. Kim,

    The application of electropolishing for removing burrs and residual stress of stamping leadframe,

    IMAPS-KOREA J. of the Microelectronics & Packaging Society, V.8, N.3, pp.19-24, Sep. 2001

  • 1

    Y. E. Shin and J. M. Kim,

    A Study on the life prediction and quality improvement of joint in IC package,

    J. of KWS, V.17, N.1, pp.124-132, Feb. 1999